无锡回收NFC芯片收购冠西光耦

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两类方法适用于不同类型的风口，测量方法选择不当是造成结果差异大的可能原因。直接法测量，顾名思义，即通过风量罩直接测得风量值。适用性较广，尤其是出风口气流分布不均匀（散流、旋流等）的场合。但须注意风量罩对适合测量的风口有尺寸限制（风口尺寸较风量罩尺寸不可过大或过小）。间接法测量，通过风速仪测得风速值，再通过计算得出风量值。间接法测量对出风口气流分布要求较严格（即气流分布尽量均匀）。在风口气流分布较均匀的场合，直接法与间接法测量结果大致接近。