金属层膜厚分析仪
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面议
x射线测厚仪Thick800A是天瑞集多年的经验,研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上为其开发的软件,在镀层行业中得到了广泛的应用。
天瑞镀层测厚仪是一款自动化程度很高的快捷膜厚测试设备,它可以用鼠标来控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点,高分辨率探头使分析结果更加,良好的射线屏蔽作用,测试口高度敏感性传感器保护。同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
天瑞x射线荧光镀层测厚仪已经在下面的领域中得到大规模使用,黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测。金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。通信5G,电子连接件,器材部件等等产品。
天瑞测厚仪产品 基本参数:
分析范围从硫(S)到铀(U)。镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)。任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序,适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm。重量:90kg。
无损:测试前后,样品无任何形式的变化。
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度
全自动智能控制方式,一键式操作!
开机自动退出自检、复位
开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样精密的三维移动平台
的样品观测系统
的图像识别
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器,自动切换