梅州供应二手德律TR-5001E服务
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TR-518FV , TR-518FE , TR-518FR , TR-5001 , SRC6001 , JET300NT,
ICT在线测试仪是德律科技继成功推出TR518F之后,运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试 速度较传统ICT快一倍以上。 此外,更具有可程式化开短路学习模式设定,满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程,无疑是一台抵两台的选择,无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。
二手TR-5001E 运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试速度较传统ICT快一倍以上。 此外,更具有可程式化开短路学习模式设定,满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程,无疑是一台抵两台的选择,无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。
5001E满足电子产业中各类产品对测试环境不同之要求,所推出之全系列产品之一。其切换电路板乃应用且高寿命之机械式Reed Relay,适用模拟产品及高压电流之检测,并可整合动态量测 。而高密度之设计及软件技术,使TR518FR之测点可高达2560测试点,其速度亦较传统的ICT快80%以上。
5001E在线测试仪规格参数
测试点数 标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点
测试步骤 步骤: 12288步骤,可依需求扩充
测试时间 开路/短路测试:每1000点约1.5Sec(Typical DUT)
元件测试:每一元件约0.8mSec至30mSec(Typical DUT)
测试范围 电阻:0.1Ω至40MΩ电晶体: ±5V
电容:1.0PF至40mF Zener二极体: 标准配备,0.1V至48V
TR518FR是德律科技为满足电子产业中各类产品对测试环境不同之要求,所推出之全系列产品之一。其切换电路板乃应用且高寿命之机械式Reed Relay,适用模拟产品及高压电流之检测,并可整合动态量测 。而高密度之设计及软件技术,使TR518FR之测点可高达2560测试点,其速度亦较传统的ICT快80%以上。
规格
. 测试点数 可达3200(模拟)/1600(数字)
. 作业系统 微软Microsoft Windows 2000/XP/7
. 测试治具 两段式压床
. 可测电路板尺寸 标准: (宽) 360 mm x (长) 300 mm x (高) 100 mm
选配: (宽) 500 mm x (长) 350 mm x (高) 100 mm
. 模拟硬件
1、六线式量测
2、可编程AC电压源/DC电压源与电流源/DC高电压源
3、AC/DC电压源, DC电流源量测
4、元件R/L/C量
. 选配硬件
。模拟测试
1、TestJet技术非向量式开路检测,任意波形产生器(AWG)
。数字测试
1、每脚位全新数位1:1非多工式驱动/接收比设计
2、待测板电源: 5V@3A, 3.3V@3A, 12V@3A, 18V@3A, -12V@3A, 24V@3A
3、可编程DUT电源: 25V@8A, 75V@2.5A
4、边界扫描, BGA Tree测试能力
5、支援快闪记忆体及EEPROM及MAC的在线烧录TR-5001E
选ICT 二手TR5001E
工作电压:220V
配置:标配(320点)
成色:二手九成新
JET-300在线测试机(IN CIRCUIT TESTER)是经由量测电路板上所有零件,包括电阻、电容、电感、二极管、晶体管、FET、SCR、LED 和IC等,检测出电路板产品的各种缺点诸如:线路短路、断路、缺件、错件、零件不良或装配不良等,并明确地指出缺点的所在位置,帮助使用者确保产品的品质,并提高不良品检修效率。它还率先使用可用数亿次开关的磁簧式继电器(REED RELAY),是当今测试涵盖率*高,测试*稳定,使用*方便,提供资料*的在线测试机。
系统性能
JET-300在线测试机(IN CIRCUIT TESTER)是经由量测电路板上所有零件,包括电阻、电容、电感、二极体、电晶体、FET、SCR、LED 和IC等, 检测出电路板产品的各种缺点诸如 : 线路短路、断路、缺件、错件、零件不良或装配不良等, 并明确地指出缺点的所在位置, 帮助使用者确保产品的品质, 并提高不良品检修效率. 它还率先使用可用数亿次开关的磁簧式继电器(REED RELAY), 是当今测试涵盖率**, 测试稳定, 使用方便, 提供资料的在线测试机.
以下是JET-300的产品特性
硬体规格
REED RELAY的扫描板
JET300的扫描板採用了可二亿次的REED RELAY,解决了ICT 扫描板容易损坏的问题, 由于REED RELAY 的应用,使JET-300在性能上大有改善。诸如:
1.Zener diode 测试电压可达50v,所有测试点皆可使用。
2.小电容和小电感量测较准确和稳定,较不受温度的影响。
3.电容极性的可侦测率较用CMOS RELAY时大为提高。
4.可耐高压又有残存电压侦测功能,扫描板受到充分的保护。
5.配置功能测试的可行性较高。