硫化层厚度测厚仪
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镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10-40秒内完成。
随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、、实用化的方向进了一步。它适用范围广,量程宽、操作简便且,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。
镀层测厚仪它采用较新X射线荧光技术,具有精度高、示值稳定、功耗低、分辨率高、操作界面人性化等特点。其新增加的功能包括:成分分析,FP测试方法等,使仪器更加适合工业现场的工作需求,给客户提供了更多的便利。测试的数据不容易受到干扰,并且优良的精度、即使温度变化了也不会影响测量。了重复性。
:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。 简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。 镀层测厚仪是针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测。广泛应用在电器电器、五金工具、汽车配件、高压开关、 制冷设备、精密五金、电镀加工、卫浴、PCB线路板等企业.