降落数值®-发芽损伤的测定

国际标准方法用于发芽损伤的测定

降落数值仪®检测谷物和面粉中的α-淀粉酶活性来检测发芽损伤，优化淀粉酶活性确保谷物交易的质量。α-淀粉酶活性直接影响许多食品的终品质，如面包、面条、馒头和饼干等，任何食用小麦、大麦、黑麦或者高粱等谷物，用于这些食品的应用时都会收益于降落数值仪的检测。

满足的国际标准方法：

ICC/No. 107/1 (1968)
AACCI/No. 56-81.03 (1972)
ISO/No. ISO/DIS 3093 (1974)
ASBC Barley 12-A

什么是发芽损伤？

谷物在雨季持续的潮湿环境下，谷物开始萌芽，如果收割被耽误，谷物的颗粒吸收水分开始发芽，产生的酶破坏胚乳中储存的淀粉和蛋白，酶从淀粉和蛋白的氨基酸中释放的糖滋养胚芽的发育成长。

α-淀粉酶是发芽谷物产生的一种酶，虽然正常的小麦颗粒的胚胎或者胚芽里也存在一些α-淀粉酶，但是一旦发芽开始，胚胎及其周围的淀粉质胚乳会加速酶的产生，一个发芽损伤很严重的谷物颗粒含有的酶比发芽早期的酶含量高出好几千倍。因此一个小麦样品中即使含有很少的发芽损伤颗粒也会表现出的酶活性。α-淀粉酶在发芽损伤的颗粒中将淀粉转化成糖，同样当小麦粉和水混合时，淀粉酶会损伤淀粉颗粒，影响面团的质量。

型号和配件

波通仪器公司降落数值仪®有一系列型号产品，满足用户各种不同需求，同时也提供各种配件帮助您分析更方便，更节省费用。

从右边的降落数值®菜单选择适合您的型号和配件。波通公司所有型号的降落数值都满足所有国际标准方法，并且都是由具有丰富降落数值法经验和知识的波通公司生产-波通公司是世界上将降落数值法介绍到谷物行业里的公司。