供应Langer电磁兼容抗干扰开发系统E1，求购E1，E1使用方法

Langer E1 抗干扰开发系统， 求购E1，E1使用方法详细内容







EFT 突发干扰在EMS测试中的产品介绍，全国范围内推荐

如果电子模块和设备在burst和ESD脉冲测试中发生功能失效，那么被测设备（EUT）进行修改。E开发系统被用于和的确定EUT内功能失效的原因，用户能够找出多少以及为什么立的导线和元件被影响，这允许用户直接在电路上或在布局布线中进行适宜的纠正行为。SGZ 21 burst产生器可以产生的测试脉冲，这些脉冲通过导线连接或通过磁场或电场源被耦合到EUT中，在测试过程中，通过一个传感器和EUT内部测量得到的干扰电流，信号可以被监视。 包括： Burst产生器SGZ 21 带有OFP的EMC传感器S31 磁场探头MS 02 磁场源探头BS02 磁场源探头BS 04 DB 磁场源探头BS 05 D 磁场源探头BS 05 DU 电场源探头ES 00 电场源探头ES 01 电场源探头ES 02 电场源探头ES 05 D 电场源探头ES 08 D 附件 使用说明 带有泡沫塑料填充的包装箱







Langer E1 抗干扰开发系统， 求购E1，E1使用方法详细内容

EMS 测试中的使用，全国范围内推荐：

E1抗干扰开发系统中SGZ21脉冲的幅度是连续变化的。峰值在0－1500V之间，是按统计平均分布的。利用这种方法，配合传感器能对模块进行特别*的抗干扰性能评估（脉冲率测试法－见2.5节），为此，发生器内置了一个带光纤（2.2mm塑料光纤）输入的计数器。

 

同时SGZ21采用电气隔离（无PE参考）的对称输出。干扰脉冲能被容性耦合，极性可变。这样，就能采用各种耦合方式，例如： 

－把发生器的输出直接连接到被测物的GND系统上，把干扰电流直接注入到GND系统。

－把干扰电流注入到GND，然后从VCC返回。