供应Langer电磁兼容抗干扰开发系统E1,求购E1,E1使用方法
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EFT 突发干扰在EMS测试中的产品介绍,全国范围内推荐
如果电子模块和设备在burst和ESD脉冲测试中发生功能失效,那么被测设备(EUT)进行修改。E开发系统被用于和的确定EUT内功能失效的原因,用户能够找出多少以及为什么立的导线和元件被影响,这允许用户直接在电路上或在布局布线中进行适宜的纠正行为。SGZ 21 burst产生器可以产生的测试脉冲,这些脉冲通过导线连接或通过磁场或电场源被耦合到EUT中,在测试过程中,通过一个传感器和EUT内部测量得到的干扰电流,信号可以被监视。 包括: Burst产生器SGZ 21 带有OFP的EMC传感器S31 磁场探头MS 02 磁场源探头BS02 磁场源探头BS 04 DB 磁场源探头BS 05 D 磁场源探头BS 05 DU 电场源探头ES 00 电场源探头ES 01 电场源探头ES 02 电场源探头ES 05 D 电场源探头ES 08 D 附件 使用说明 带有泡沫塑料填充的包装箱
EMS 测试中的使用,全国范围内推荐:
E1抗干扰开发系统中SGZ21脉冲的幅度是连续变化的。峰值在0-1500V之间,是按统计平均分布的。利用这种方法,配合传感器能对模块进行特别*的抗干扰性能评估(脉冲率测试法-见2.5节),为此,发生器内置了一个带光纤(2.2mm塑料光纤)输入的计数器。
同时SGZ21采用电气隔离(无PE参考)的对称输出。干扰脉冲能被容性耦合,极性可变。这样,就能采用各种耦合方式,例如:
-把发生器的输出直接连接到被测物的GND系统上,把干扰电流直接注入到GND系统。
-把干扰电流注入到GND,然后从VCC返回。