金属镀层厚度分析仪

x射线荧光镀层测厚仪可满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求，φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求，移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自动定位测试高度，定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐。

天瑞镀层测厚仪是一款自动化程度很高的快捷膜厚测试设备，它可以用鼠标来控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点，高分辨率探头使分析结果更加，良好的射线屏蔽作用，测试口高度敏感性传感器保护。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。

采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动退出自检、复位
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样精密的三维移动平台
的样品观测系统
的图像识别
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器，自动切换