眉山出售二手TR-5001E测试仪

产品详情： 二手TR5001E ICT在线测试仪（二手德律TR-518FE） 产品说明 ICT在线测试仪是DL科技继成功推出TR518之后，运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试 速度较传统ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化开短路学习模式设定，满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程，无疑是一台抵两台的选择，无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。 产品特色 电脑自动学习并自动产生，开/短路、Pin Information及IC保护二极体之测试程式　 可网路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式 Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置，方便检修 大型主机设计，高密度SwitchingBoard，高可达3584测试点 应用IC Clamping Diode技术，可辅助检测 BGA 开路空焊问题 TR518FE是德律科技继成功推出TR518F之后，运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。

TR5001E测试仪 二手TR5001E搭配两段式压床将可降低治具成本，此ICT为PCBAs测试之可扩充平台。TR5001E可以依客户的测试需求，提供经济的测试解决方案，并且可完全满足大多数客户之测试要求。TR5001E整合MDA和可选择性的ICT及Functional测试功能于同一平台,可以精简人力，缩短测试时间并提高产能。 二手ICT TR5001E特点 . 模组化升级选项，可将MDA设备升级至ICT与功能测试系统 . 高测试覆盖率之解决方案 . 少量测点之解决方案与PXI模组功能测试扩充 . 人性化接口搭配快速又简单的程序发展

Agilent TestJet Technology也可用来侦测各种插座的接脚断路，不论是Insertion type或是 SMD type皆可侦测。 宽频而准确的相位分离量测法 对于在RC或RL并联电路中的R.L.C. 可用相位测量法，分别量出其零件值，由于信号源频率宽广(100Hz到1MHz)，因此可以侦测的范围优于一般的ICT，像下图线路中的零件都可以准确量测。 三端点、四端点量测 可对三端点的零件如 TRANSISTOR，DIGITAL TRANSISTOR，FET，SCR等。或四端点零件如 PHOTO COUPLER，做正确的测试，如有反插或零件损坏，必可测出。TRANSISTOR的β值也可量测。

网路即时监控系统 如果把多台ICT连到内部网路系统，则每一台ICT的测试统计资料都可以在网路上的任何一台电脑上显示，管理者可以很方便地随时查看生产线的状况。 网路错误讯息查询系统 只要把ICT 和检修站都连到内部网路系统, 则在检修站就可以检视到不良板的所有错误讯息，包括：打印机的印出讯息和错误图形显示。 待测板图形显示功能 可在待测板不良发生时，明白显示不良零件或焊点的位置，亦可在零件位置查询时显示零件的位置，此功能可大大缩短不良品检修的时间和程式调适的时间。如果厂内有网路连线系统，则此图形亦可在维修站的萤幕上显示出来.

模拟硬件
1、六线式量测
2、可编程AC电压源/DC电压源与电流源/DC高电压源
3、AC/DC电压源, DC电流源量测
4、元件R/L/C量

能、的在线测试仪，实测证明电解电容极性可测率高达100％，真正功能价格比优的在线测试仪功能、品质。

的测试技术
1.的电解电容极性测试技术可测率高达100％。
2.开短路及IC保护二极体之测试程式自动学习生成。
3.电脑自动隔离点选择功能，高可达10个点。
4.多连板程式自动生成功能。
5.CMOS+RELAY结合的开关板设计，使测试既快又稳定
6.R.L.C相位分离技术
7.杂散电容OFFSET功能
8.系统自我诊断功能。
9.完整的统计报表功能，资料可自动存储，不因断电而丢失数据。
10.对小电阻使用特殊四线式测试模式，可排除探针与电路板之间不稳定接触电阻.
11.应用IC Clamping Diode特性，检测IC脚位故障及焊接不良。
12.体积小，重量轻，使用灵活，符合高科科技产品轻，薄，短，小的要求。