无损检测x-ray,三方检测机构-出具CMA/CNAS报告

 X-ray无损检测技术

X-ray检测是一种发展成熟的无损检测方式，目前广泛应用在物料检测（IQC）、失效分析（FA）、质量控制(QC)、质量及可靠性(QA/REL)、研发(R&D)等领域。

X-ray检测是利用阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击，在撞击过程中，因电子突然减速，其损失的动能会以X-ray形式放出对样品进行穿透性检测的一种方法。

利用X-ray穿透不同密度物质后其射线强度的变化可形成样品内部结构的影像，因此可以对样品进行无损的内部分析，是常见的无损检测技术之一。

应用范围及目的

X-ray检测技术可以对金属材料及零部件、电子元器件、LED元件等内部的裂纹、异物的缺陷进行检测，以及对BGA、线路板等内部位移的分析；判别空焊，虚焊等BGA焊接缺陷，对电缆，装具，塑料件等内部情况进行分析。

它具有穿透成像的功能，可以在不破坏样品的情况下清楚地检测出电子元件的内部缺陷。除电容器X射线检查外，X射线还可以执行以下检查：组件层剥离，破裂，空隙和电缆完整性检查。

在电子元件的生产中，PCB板可能会存在诸如对齐不良或桥接和断路之类的缺陷。SMT焊点腔检查，例如，检测各种连接线中的开路，短路或异常连接缺陷；检查焊球阵列包装和芯片包装中焊球的完整性；检测到高密度塑料材料裂缝或金属材料；芯片尺寸测量，电弧测量，元件锡面积测量等。

参照的标准及测试流程

参照标准

GB/T19293-2003；

GB17925-2011；

GB/T 23909.1-2009等等。

测试流程