淮安ASA膜测厚仪公司

台式的荧光X射线膜厚测试仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。

ASA膜测厚仪采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基
体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。

ASA膜测厚仪水分子的O-H键在几个特定的波长吸收近红外线辐射。SIMV薄膜红外在线测厚仪内旋转的滤光盘上三个滤光片产生这些吸收波长和不吸收波长，交替地从产品表面反射到内部光学组件，由光信号转换成的电子脉冲经过一个比率算法计算出正比例的水分含量，这个含量再经偏置和跨度的校正变成直接的水分含量。特别设计的滤光反射信号算法，消除了光学部件老化和不同的物料反射特性引起的偏差。