Langer干扰发射探头套组-S603/S750

Langer干扰发射探头套组（IC测试系统）
品牌：Langer EMV-Technik
型号：S603/S750
基于IEC61967-4标准的传导发射测量

Langer干扰发射探头套组S603/S750介绍：
S603/S750的测量确保了测量的高重复性和可比性。可以使用 ChipScan-ESA 软件进行测量。利用该软件保存了所有被测点的测量结果。它允许系统地、快速地比较和分析测量数据。

Langer干扰发射探头套组S603/S750配置:
1x S603, 1Ω高频电流表 SMA
1x S750, 150Ω高频电压表 SMA
1x SMA-SMA 1 m, SMA-SMA 测量电缆

简短的介绍：
S603 1Ω高频电流表 SMA：用于直接测量集成电路引脚上的高频电流。测量时，把它接到电源引脚（Vdd/Vss）或信号引脚上。1Ω高频电流表拥有针脚触点，借此可以接触到并对单个的引脚并进行测量。

S750 150Ω高频电压表 SMA:高频电压表带有150Ω的耦合电路，它根据IEC 61967-4测量集成电路引脚的高频电压。P750探头具备高阻抗的电容耦合输入，因此能够测量受测物上不同引脚的射频电压。