南京卡尔蔡司扫描显微镜通道

由于高浓度的琼脂糖浓度会影响部分活体样本的发育和状态，琼脂糖浓度太低又会影响样品的稳定性，此时，我们可以选择将样品围封在FEP管中。
适合样品：折射率和FEP、琼脂糖相似的样品，如斑马鱼、果蝇、线虫、拟南介等。
样品大小：平台配有不同规格的FEP管，具体围封方式类似于包埋方式。
围封样品模式图

扫描电镜图像的形成需要各个系统相互配合，电子光学系统为扫描电镜提供的电子束，信号探测系统将电子束与样品相互作用产生的信号进行采集与处理。电子光学系统内容请参考往期文章，本篇主要对扫描电镜的信号探测系统进行介绍。

扫描电镜可以采集多种不同类型的信号用于成像和分析，其中二次电子(SE)和背散射电子(BSE)信号是基本也是常见的两种信号类型。
不同厂家和型号的电镜在采集SE，BSE信号时所用的探测器都具有各自特的技术，但旁置式二次电子探测器和极靴下背散射电子探测器在架构和工作原理方面相对固定，应用也很广泛，因此本文只会对旁置式二次电子探测器和极靴下背散射电子探测器进行介绍。

扫描电镜及X射线能谱仪或电子探针为准确鉴定钢中非金属夹杂物属性提供了非常可靠的技术，他可以将D类等非金属夹杂物的二维和三维形貌、与所含元素的X射线元素面分布图、与其内含有元素或所含简单氧化物的重量百分数和原子百分数定量分析结果有机结合起来，对这种D类非金属夹杂物给出一个全新的诠释。由此，作者提出了非金属夹杂物的相结构概念，用“复相夹杂物”代替目前常用的“复杂夹杂物”或“复合夹杂物”，重新认识这个对钢性能有重要影响的D类非金属夹杂物，与业界同行商榷。

蔡司解决方案在增材制造领域的应用范围覆盖粉末和材料分析，所使用的设备包括光学显微镜、扫描电镜、X射线技术。
使用光学显微镜来测试金属粉末的粒径分布
使用SEM扫描电镜对3D打印金属粉末的球形度和实心性进行分析
使用CT对粉末颗粒的宽高比和粒径进行分析
对于内部缺陷，蔡司的解决方案也能轻松检测，比如微裂纹、分层、疲劳裂纹、盈利、孔隙率、粉末残留物和气孔等。

蔡司 Lightsheet Z.1 恰恰能实现这一切。的多视角激光片层扫描显微成像系统（Light Sheet Microscopy）能够记录大型活体样品的发育过程，对样品低损伤地成像，提供更多的信息。
成像速度极快：Lightsheet Z.1 是一款能以极快速度获取光学切片的显微工具，可让您以亚细胞分辨率获得完整的样品图像，耗时却远少于采用其它技术所需的时间。

特点
使用多视角成像功能查找样品在成像物镜中的佳位置
在进行样品信息的后期处理前，从不同视角采集信息对整个样品成像
通过重组不同视角的信息来提高图像的分辨率，然后使用特殊的去卷积算法进一步提高图像质量

电子经过一系列电磁透镜成束后，打到样品上与样品相互作用，会产生二次电子、背散射电子、俄歇电子以及X射线等一系列信号。所以需要不同的探测器譬如二次电子探测器、X射线能谱分析仪等来区分这些信号以获得所需要的信息。虽然X射线信号不能用于成象，但习惯上，仍然将X射线分析系统划分到成象系统中。
有些探测器造价昂贵，比如Robinsons式背散射电子探测器，这时，可以使用二次电子探测器代替，但需要设定一个偏压电场以筛除二次电子。

扫描电子显微镜是利用材料表面微区的特征（如形貌、原子序数、化学成分、或晶体结构等）的差异，在电子束作用下通过试样不同区域产生不同的亮度差异，从而获得具有一定衬度的图像。成像信号是二次电子、背散射电子或吸收电子，其中二次电子是主要的成像信号[2]。图3为其成像原理图，高能电子束轰击样品表面，激发出样品表面的各种物理信号，再利用不同的信号探测器接受物理信号转换成图像信息。