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测量工件尺寸:通过点与点之间的距离得出结果,或使用“构造对称线”等方法找基准原点C。
查看形位公差和孔的位置度:先选基准再选被测,根据配合情况选择MMC或S原则,并输入理论值进行合格判定。

光学干涉测量技术在精密加工中的应用:光学干涉测量技术利用光的干涉原理,通过测量光波在物体表面反射或透射时产生的干涉图样,来测定物体的形状、表面粗糙度等参数。该技术具有高灵敏度和非接触测量的优点,在光学元件加工、半导体制造、微纳米加工等领域得到广泛应用,推动了这些领域向更和更复杂结构的发展。

选择合适的测量工具:根据待测尺寸的大小、形状和精度要求选择合适的测量工具。
正确操作测量工具:在使用测量工具时,应严格按照操作规程进行,避免因操作不当导致的测量误差。
注意测量环境:测量环境对测量结果有一定影响,应尽量选择温度稳定、光线充足、无振动和电磁干扰的环境进行测量。
多次测量取平均值:为了提高测量精度,可以多次测量并取平均值作为终结果。

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