表面绝缘阻抗测试烟台优尔鸿信SIR表面绝缘阻抗测试

SIR表面绝缘阻抗测试是表面绝缘电阻测试的简称，主要用于评估印制电路板、组件表面及周围相邻线路区域的表面清洁度（包括加工、制造过程的残留）对表面绝缘电阻的影响。同时，它也评估产品使用物料（助焊剂、锡膏、阻焊膜等）的耐SIR能力及等级。在高温高湿状态且施加电压环境下，样品表面的残留离子、水份形成电解液，在电势差的作用下阳离子向阴极转移并沉积析出形成枝晶，从而导致绝缘电阻下降或短路。

根据IPC-6012C标准，SIR测试的评估结果通常以阻抗值表示。一般来说，阻抗值越大，表明电路板的绝缘性能越好。根据不同的应用需求，SIR测试的阻抗要求也有所不同。一般来说，对于高可靠性的电子产品，如航空航天设备和医疗器械，要求阻抗值达到数十兆欧姆以上；而对于一般电子产品，如消费电子和通信设备，阻抗值在几兆欧姆到数十兆欧姆之间即可满足要求。

电子制造业：SIR表面绝缘电阻测试和CAF离子迁移测试是两项非常重要的测试方法，可以帮助生产商评估电子元件的质量和可靠性，并及时发现潜在的故障和缺陷。