天瑞XRF光谱仪,XRF设备

性能参数

产品型号：EDX 4500
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：60秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA

EDX4500H合金光谱仪是天瑞仪器公司为合金测试开发的仪器类型。
具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。
同时具有合金测试、合号分析、有害元素分析，土壤分析仪、贵金属分析等功能。
检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等，形态为固体、液体、粉末等。

半导体行业从原材料到生产制造都需要应用到分析测试仪器。天瑞仪器作为国内化学分析行业的者，从事光谱仪、色谱仪、质谱仪和环境检测仪器四大系列分析测试仪器的研发、生产、销售与服务。公司产品丰富，可广泛应用于芯片材料检测与质量控制。此次，天瑞仪器展出产品呈现了其在半导体材料领域的技术应用，吸引了多方关注，为半导体产业链的安全提供了技术和产品的保障。

与SGS对比差异的产生
答： 因为XRF是属于物理方法，是表面测试仪器，而SGS是采用化学方法,使用试剂溶解测试.从测试原理来讲，这两种方法是存在差异的，另外采用的检测设备是不同的。