天瑞仪器x荧光镀层测厚仪X-ray荧光膜厚分析仪

天瑞测厚仪产品 基本参数：
分析范围从硫(S)到铀（U）。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）。任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序，适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm。重量：90kg。

采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动退出自检、复位
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样精密的三维移动平台
的样品观测系统
的图像识别
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器，自动切换

手持式XRF分析仪可对汽车中的涂覆层构件的涂覆层厚度进行准确的测试。且具有测试结果、稳定性好、测试范围广的优点。对汽车的金属镀件进行测试，器件为铁镀铜镀镍镀铬样品，由于样品体积较大无法使用台式机测试，使用天瑞手持式镀层测厚仪产品进行测试。