天瑞厂家镀铜镍锌测厚仪
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¥186000.00
荧光测厚仪的工作原理基于荧光现象。当探测器照射到被测材料表面时,材料中的原子吸收能量并发出特定波长的荧光。荧光的强度与材料的厚度有直接关系。通过分析荧光信号强度,仪器可以计算出材料的厚度。
产品名称:X射线镀层测厚仪
型号:Thick 800A
度适应范围为15℃至30℃。
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量般为ppm到99.9%
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。
镀层厚度般在50μm以内(每种材料有所不同)。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
应用领域
金属镀层的厚度测试, 电镀液和镀层含量的测定;贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。
X射线镀层测厚仪广泛应用于电子电器、五金工具、印刷线路板、电镀铝合金企业等。
1.鼠标双击桌面上的“FpThick”软件图标:用户使用“Administrator”,密码:skyray
2.进入测试软件后,选择“测试条件”
3.选择“工作曲线”
4.放入“Ag片”对进行初始化
5.放入需要测试的样品,点击“开始”键,输入样品名称后“确定”,测试完成后即可保持报告,报告的位置可以在桌面的“分析报告”快捷方式中的“镀层报告”中找到
Thick 800A技术指标
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量般为ppm到99.9% 。
镀层厚度般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。