LCR测量Agilent4291B阻抗分析仪

LCR测量Agilent4291B阻抗分析仪/李S
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HP4291B丨LCR测量Agilent4291B阻抗分析仪
安捷伦4291B/惠普4291B，HP4291B，Agilent 4291B
安捷伦/惠普4291BRF阻抗/材料分析仪，
四元件测试夹具（被测件尺寸：0.5毫米至20毫米）
在2个通道的立参数的选择
直接读出介电常数，透气性好（选项）
两种材料夹具（工作温度：-55?C至200?的C）
多功能分析（温度，科尔，科尔图，弛豫时间）
扫描参数（频率，AC电平，直流偏置，温度）

安捷伦4291B射频阻抗/材料分析仪提供了一个高度和容易测量的表面贴装元件和介电/磁性??材料的整体解决方案。安捷伦4291B使用直接的电流 - 电压测量技术，反对反射测量技术，为更广泛的阻抗范围内提供的阻抗测量。
基本阻抗精度为+ / - 0.8％。高Q精度使低损耗的成分分析。内部合成器，扫描频率从1 MHz到1.8 GHz 1 mHz的分辨率。一个1.8米的错误更少的电缆连接分析仪测试站，这样可以延长您的测试点距离分析仪，而不会失去准确性。的校准和误差补偿功能，消除固定装置的测量误差因素，并在DUT / MUT很高的精度和可重复性。
安捷伦4291B还提供了自动电平控制，使用IBASIC编程功能和测试信号的监控，可以根据一个恒定的电压或电流测量设备。测量偏压依赖可选直流偏置（高达40 V和100毫安）的阻抗特性。在按下一个按钮，内置等效电路分析功能自动计算出5个电路模型的电路常数值。
安捷伦4291B有两个测量通道，每个通道都可以设置为衡量一个单一的（如Z）或双（如Z -θ）阻抗参数。分割显示彩色TFT显示活动的痕迹和记忆痕迹（存储在RAM中）。一个内置的软盘驱动器的存储程序和LIF或MS - DOS格式的测试数据。随着内置IBASIC，您可以控制??外部测试设备，如温度室或直接从安捷伦4291B晶圆探针。你不需要一个单的仪器控制器。
材料评估
惠普/安捷伦4291B可以方便和的材料评估和提高材料评估的质量和效率。安捷伦4291B提供了在宽的频率范围内的总电介质/磁材料测量解决方案（1 MHz至1 GHz）。

备注：
我们的优势：
品种，货源充足，存库雄厚，服务快捷，维修能力强。
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