2.5次元测量仪XVM-3020F，二点五次元测量仪

主要特点
采用“HIWIN”P级直线导轨和精密V型滚珠导轨,机器精度及使用寿命。
立柱和底座采用坚实的花岗岩结构、稳定可靠。
配备多功能2.5D测量软件，自动寻边,影像测高。
配备可移动可拆卸的仪器桌。
高清卡位变倍镜头和高分辩率CCD,实现产品高清晰度测量。
测量结果可输出Word 、Excel、CAD等格式。
可导入DXF文件进行快速检测。

XVM-F增强型一体机系列技术参数
型号
XVM-2010F增强型
XVM-3020F增强型
XVM-4030F增强型
测量范围(mm)
200x100x200
300x200x200
400x300x200
外型尺寸(mm)
750*1300*1500mm
750*1300*1500mm
900*1400*1500mm
重量(kg)
160
170
250
承重(kg)
20
25
25


测量精度(μm): 3+L/200
重复精度（mm）:0.003
测量方式：影像
光栅尺: 1.0μm分辩率开放式玻璃光栅尺
图像传感器CCD: HC536 1/3英寸600线工业彩色相机
导轨: Z轴：“HIWIN”P级直线导轨 X、 Y轴：精密V型导轨
光学系统: 6.5:1连续变倍卡位镜筒
放大倍率: 光学放大倍率:0.7-4.5X;影像放大倍率:24-158X
软件: 手动2D测量软件