PCT老化箱（又名PCT高压加速老化试验机）主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。
老化试验箱是环试行业中的一种产品总称，老化试验箱包含：臭氧老化、紫外老化、氙灯老化、换气式热老化、高温老化、盐雾腐蚀老化…等众多老化试验方式。是人工环境气候试验方法中较重要的一种。
佳放置条件
一、温度：5～40℃；
二、相对湿度：不大于85%；
三、气压：86～106kPa；
四、电源：交流电压220±22V或380±38V 频率50±0.5Hz；
五、周围无强烈振动，无强磁场影响，无腐蚀性气体；
六、无阳光直接照射或其他冷、热源直接辐射；
八、周围无强烈气流，当周围空气需要强制对流时，气流不应直接吹到箱体上。