荧光测金厚仪器
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EDX600PLUS镀层测厚仪是江苏天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光镀层厚度测量技术经验,研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。测量方便快捷,无需液氮,无需样品前处理。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行检测,帮助企业准确核算成本及质量管控。全新的下照式设计,一键式的按钮,减少摆放样品时间。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电器、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。
镀层测厚仪它采用较新X射线荧光技术,具有精度高、示值稳定、功耗低、分辨率高、操作界面人性化等特点。其新增加的功能包括:成分分析,FP测试方法等,使仪器更加适合工业现场的工作需求,给客户提供了更多的便利。测试的数据不容易受到干扰,并且优良的精度、即使温度变化了也不会影响测量。了重复性。
X荧光镀层测厚仪:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。天瑞一直致力于分析仪器事业,相信天瑞会为电镀行业的客户提供有竞争力的解决方案和服务。 X荧光镀层测厚仪特点-简易: 对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。天瑞一直致力于分析仪器事业,相信天瑞会为电镀行业的客户提供有竞争力的解决方案和服