产品概述：
GDS-80L晶振测试仪是一款专为石英晶体谐振器（晶振）设计的测试设备，集频率测量、负载电容分析及等效阻抗测试于一体。它广泛适用于晶振生产、电子设备研发、通信模块检测等领域，帮助用户快速评估晶振的稳定性、频率精度及负载特性，是提升生产效率和产品质量的核心工具。
核心优势与功能亮点
全参数测量
频率测试范围： 覆盖1MHz至300MHz，支持泛音模式检测，满足基频与高频晶振的测试需求。
负载电容可调： 提供5pF至30pF可调负载电容设置，模拟晶振实际工作环境，确保测试结果与真实场景一致。
等效阻抗分析： 一键获取晶振的等效电阻（ESR）、动态电容（C1）及静态电容（C0），全面评估器件性能。
智能化测试系统
自动扫频功能： 快速扫描晶振的频率响应曲线，自动识别谐振点并计算品质因数（Q值），显著提升测试效率。
不良品筛查： 内置阈值报警功能，可设定频率偏差、阻抗范围等参数，实时标记不合格产品，减少人工复检成本。
人机交互
7英寸触摸屏： 图形化界面直观显示测试波形、参数对比及统计结果，支持多点触控操作，简化复杂流程。
多语言支持： 提供中/英/日等多种操作语言，适配全球化生产需求。
数据管理与扩展性
云端互联： 支持USB/蓝牙/Wi-Fi数据传输，兼容LIMS系统，实现测试数据的实时上传与远程监控。
批量测试模式： 可连接分选机或自动化产线，单机日检测量高达10,000颗，助力大规模生产降本增效。
典型应用场景
晶振制造商： 用于晶片分选、成品出厂检验，确保频率精度与批次一致性。
电子产品研发： 优化通信模块、智能硬件中晶振的匹配设计，降低信号失真风险。
质量检测机构： 提供的晶振性能报告，辅助认证与合规性审核。
维修与售后： 快速诊断设备故障中的晶振问题，缩短维修周期。
技术参数
| 项目 | 参数详情 |
|---|---|
| 频率测量范围 | 1MHz～300MHz |
| 频率分辨率 | ±1ppm（典型值） |
| 负载电容范围 | 5pF～30pF（步进0.1pF） |
| 等效阻抗测试精度 | ±5% |
| 测试速度 | ≤0.5秒/次 |
| 数据接口 | USB/蓝牙5.0/Wi-Fi |
| 电源输入 | AC 100-240V, 50/60Hz |
| 工作温度 | 0°C～40°C |
| 尺寸 | 320mm×250mm×150mm |
为什么选择GDS-80L？
专精晶振测试： 针对石英晶体特性深度优化，测试效率与精度远超通用型阻抗计。
适应严苛产线： 抗电磁干扰设计，24小时连续运行稳定可靠，故障率低于0.1%。
赋能智能生产： 无缝对接MES/ERP系统，助力企业数字化升级。