延边销售二手TR-5001E测试仪,德律ICT

其主要特性在于测试速度较传统ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化开短路学习模式设定，满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程，无疑是一台抵两台的选择，无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。 ◆ 视窗版作业环境、人性化界面设计、操作简易 ◆ 电脑自动学习并自动产生，开/短路、Pin Information及IC ◆ 保护二极体之测试程式 ◆ 电脑自动隔离点选择功能，自动判断信号源及信号流入方向 ◆ 可网路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式 ◆ 完整测试统计资料及报表产生，且自动储存，不因断电而遗失数据 ◆ 系统具自我诊断功能及远端遥控功能 ◆ Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置，方便检修 ◆ 高科技半导体CMOS Switching设计，无寿命限制，待测物安全性高 ◆ 操作界面可以压床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式 ◆ 大型主机设计，高密度SwitchingBoard，可达3584测试点 ◆ 可加装调整装置具动态调整装调整功能

TR5001E测试仪 二手TR5001E搭配两段式压床将可降低治具成本，此ICT为PCBAs测试之可扩充平台。TR5001E可以依客户的测试需求，提供经济的测试解决方案，并且可完全满足大多数客户之测试要求。TR5001E整合MDA和可选择性的ICT及Functional测试功能于同一平台,可以精简人力，缩短测试时间并提高产能。 二手ICT TR5001E特点 . 模组化升级选项，可将MDA设备升级至ICT与功能测试系统 . 高测试覆盖率之解决方案 . 少量测点之解决方案与PXI模组功能测试扩充 . 人性化接口搭配快速又简单的程序发展

电解电容极性测试 以三端点法侦测铝质电解电容极性反插，可测率****；以测漏电流方式侦测电解电容极性反插，可测率。 软体系统　 JET-300拥有一般ICT的软体功能，无论是在测试前的程式制作支援软体, 或是测试后的不良资讯和资料分析，都有高水准的表现。在微软中文视窗环境下执行的系统程式，操作容易，功能强大。 差零件(焊点) 系统可列印出不良数多的零件(名)和不良次数多的焊点( 点)供厂商做品质控制或制程改善的参考。 测试资料统计的日报表和月报表 图表上半的长条图用以显示当月份每日累积OPEN/SHORT，零件不良率及整个测试的可接受率。图表的下半派图用以清楚明瞭地显示当日各不良原因的百分比。