X荧光镀层镀层检测仪

贵金属检测、镀层厚度检测。
智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。

技术指标

元素分析范围：从硫（S）到铀（U）。
测量对象：固体、液体、粉末
分析检出限可达：ppm。
分析含量一般为：ppm到99.9％

在现代工业中，测厚仪扮演着至关重要的角色。无论是在金属加工、涂层检测，还是在建筑业和汽车制造等领域，测厚仪的应用无处不在。随着科技的不断发展，测厚仪的种类和功能也在不断升级，已成为工程师和技术人员日常工作中不可或缺的一部分。

荧光测厚仪的工作原理基于荧光现象。当探测器照射到被测材料表面时，材料中的原子吸收能量并发出特定波长的荧光。荧光的强度与材料的厚度有直接关系。通过分析荧光信号强度，仪器可以计算出材料的厚度。