天瑞仪器电镀层测厚仪光谱分析仪,X-ray测厚仪

在厚度一定的情况下，X射线的能量值为常量。当安全快门打开，X射线将从X射线源和探头之间的被测钢板中通过，被测钢板将一部分能量吸收，剩余的X射线被位于X射线源正上方的探头接收，探头将所接收的X射线转换为与之大小相关的输出电压。如果改变被测钢板的厚度，则所吸收的X射线量也将改变，这将使探头所接收的X射线量发生变化，检测信号也随之发生相应的变化。

X射线测厚仪的放射源X射线管是电离辐射，当高压关闭后，将无X射线产生，所以安全性较好，无需担心辐射影响。X射线管、冷却系统、高压发生器构成了X射线发射源。X射线管包括一个阴极灯丝和一个阳极靶。加热后的阴极灯丝能够产生电子束，将高压加在阴极灯丝与阳极靶上，电子束撞击钨制的阳极靶产生出连续光谱的X射线。阴阳极间的电势差与阴极灯丝的电流决定X射线的强度。

X射线镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域；
技术指标
多镀层分析，1～5层；
测试精度：0.001 μm；
元素分析范围从铝(Al)到铀(U)；
测量时间：10~30秒；
SDD探测器，能量分辨率为125±5eV；
探测器Be窗0.5mil（12.7μm）；

微焦X射线管50kV/1mA，钼，铑靶（高配微焦钼靶）；