天瑞仪器便携式X荧光镀层测厚仪

天瑞仪器便携式X荧光镀层测厚仪超大件物品铜镀镍检测

应用领域

 iEDX-150T镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域

技术指标

多镀层分析，1～5层

测试精度：0.001 μm

元素分析范围从铝(Al)到铀(U)

测量时间：10~30秒

SDD探测器，能量分辨率为125±5eV

探测器Be窗0.5mil（12.7μm）

微焦X射线管50KV/1mA，钼，铑靶（高配微焦钼靶）

6个准直器及多个滤光片自动切换

 XYZ三维移动平台，荷载为5公斤

 高清CCD摄像头（200万像素），准确监控位置

多变量非线性去卷积曲线拟合

FP/MLSQ分析

仪器尺寸：618×525×490mm

样品台尺寸：250×220mm

样品台移动范围：前后左右各80mm、高度90mm

图谱界面

软件支持无标样分析

超大分析平台和样品腔

集成了镀层界面和合金成分分析界面

采用多种光谱拟合分析处理技术

镀层测厚分析精度可达到0.001μm

分析报告结果

直接打印分析报告
报告可转换为PDF，EXCEL格式