Bruker探针式表面轮廓仪（台阶仪）DektakXT

Bruker 探针式表面轮廓仪（台阶仪）DektakXT
(一)、概述
布鲁克DektakXT （探针式表面轮廓仪）设计创新，实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性<5Å。这一里程碑式的产品源自于Dektak系列占据业界ling xian地位长达四十年的表面测量技术。实现了纳米尺度的表面轮廓测量，在微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、医疗、科学研究和材料科学领域大显身手。

台阶高度重复性优于5埃（<5 Å）
• 单拱龙门式设计实现了突破性的扫描稳定性
• 的”智能化电子器件”实现了低噪声的新
操作简便，易用
• 直观化的Vision64TM软件简化了用户界面的操作过程
• 特的传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和较大的力测量
• 自对准的探针设计使用户可以轻而易举地更换探针
探针式轮廓仪的ling 导 zhe
• 性能，物超所值
• 完备的零配件为您优化或延伸机台的多种应用提供保障

(二)、历史：技术创新四十余年
过去四十年间，世界范围内有上万台Dektak系列产品应用于各个领域，广泛用于膜厚、应力、表面粗糙度和面形的测量。它们以、可靠、等特性广受赞誉。