昭通销售泰瑞达二手ICT电话

ICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点。但随着器件集成度增高，功能越来越强，封装越来越小，SMT元件的增多，多层板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一个节点放一根探针变得很困难，为增加测试点，使制造费用增高；同时为开发一个功能强大器件的测试库变得困难，开发周期延长。

安捷伦ICT更高的测试效率――硅钉测试/边界扫描速度加快 40% 以上，在测试大部分 PCBA 时总体速度加快 6% 以上
向后兼容性尽量缩短安装所需要的停机时间
泰瑞达系统整合DC、AC、Digital I/O等，信号更稳定；
开机系统初始化，测试精度、稳定度
采用信号全数字滤波处理，测试更方便
自我侦测及输出报告 快速测试，满足各种线体需要
分组块测试模式，成倍提高工作效率，节约投资
采用四针六线测试技术，排除引线电阻及探针接触电阻使微电阻测试稳定
电容极性测试技术，可测试电容极性
多管脚器件测量方式，专测多管脚器件
每步高达5针隔离，对元器件隔离测试
8U结构，轻巧稳固，适应需求
完善的自检功能，保障工作前良好状态
探针接触不良检测并示值
数据自动存盘备份，保障数据无丢失
可测IC（集成电路）插错、插反，管脚开路等故障
自动消除分布电容、接触电阻
数字、图表、曲线等丰富的统计功能，提供改进工艺和质量管理的 数据
全自动放电功能 灵敏的电压感应技术，可测IC引脚漏焊开路、接插件、小电容极性
三极管β测试等技术的使用，可对元器件进行一致性检测

为向用户提供更多 ICT 能力，Keysight 还给Agilent3070配备了从标准边界扫描和连
接测试到互联测试的全部边界扫描能力。这些能力有助于满足制造商对可边界
扫描器件的需要，以及制造商能适应未来对 Intel 基周边控制中心和处理
器增加的需求。
长线 MDA 压着夹具不适合用于数字
测试，这一观点是对还是错?
虽然一般认为这是对的，但 Medalist
Agilent3070 iDEAL 证明这是错的。
Medalis Agilent070 iDEAL 用传统 MDA 型
长线压着夹具执行数字测试。边界扫
描测试，串行编程，基于库的测试
都能无毛刺地运行。使用 MDA 型夹
具，用户现在就有了简单、和低
运行成本的测试解决方案