SIR测试-衢州SIR表面绝缘阻抗测试CNAS资质
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离子迁移是由与溶液和电位有关的电化学现象所引起的,与从金属溶解反应、扩散和电泳中产生的金属离子移动反应及析出反应有关,发生过程可分为以下三种情况:
1.阳极反应(金属溶解)
2.阴极反应(金属或金属氧化物析出)
3.电极间发生反应(金属氧化物析出)
自从晶体管,线路板的诞生之日开始表面阻抗测试SIR/离子迁移测试就成为一个常见的测试工具,我们可以用此工具进行以下的测试:来料检验,材料特性检测和验证,失效分析,品质一致性检查,产品寿命的预测分析等。
电化学迁移 :(Electrochemical Migration):
此定义不包括的现象如:在半导体中的场致金属迁移和由金属腐蚀引起的产品污染物的扩散。