XRF扫描仪

性能参数

产品型号：EDX 4500
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：60秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA

X荧光光谱仪主要应用于钢铁检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素等）
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
样品腔体积：Φ320mm×100mm
重量：65Kg

标准配置

超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
钢铁行业测试配件
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构，力度可靠的
90mm×70mm的液晶屏
真空泵

2017年4月24日，天瑞仪器荣获“具影响力国内生产厂商”；刘召贵博士荣获“2016科学仪器行业企业年度人物”； WDX-4000顺序式波长色散X射线荧光光谱仪获评“2016科学仪器行业新产品”。2017年6月22日， WDX-4000获制造计量器具许可证，天瑞仪器成为国内一家能提供商业化顺序式波长色散X射线荧光光谱仪的单位。

半导体行业从原材料到生产制造都需要应用到分析测试仪器。天瑞仪器作为国内化学分析行业的者，从事光谱仪、色谱仪、质谱仪和环境检测仪器四大系列分析测试仪器的研发、生产、销售与服务。公司产品丰富，可广泛应用于芯片材料检测与质量控制。此次，天瑞仪器展出产品呈现了其在半导体材料领域的技术应用，吸引了多方关注，为半导体产业链的安全提供了技术和产品的保障。

GC-MS 6800是天瑞仪器自主研发的一款气相色谱质谱联用仪，具有完全的自主知识产权，拥有多项专利技术，可广泛应用于工业检测、食品安全、环境保护等众多领域。2019年7月22日，RoHS2.0指令正式实施，GC-MS 6800仪器在RoHS2.0修订指令所涉及的有机物检测领域迎来了新一轮的市场关注度。