天瑞公司X荧光分析镀镍测厚仪

型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

X射线测厚仪是一种用于测量材料厚度的仪器，主要功能包括以下几点：

1. 非破坏性测试：X射线测厚仪可以通过X射线的方式快速、准确地测量材料的厚度，而不需要对材料进行破坏性测试。

2. 测量：X射线测厚仪可以实现的测量，可以检测到微小的厚度变化，精度通常可以达到几微米。

3. 大范围测量：X射线测厚仪可以应用于各种材料的厚度测量，包括金属、塑料、涂层等材料，可以实现在不同厚度范围内的准确测量。

4. 自动化功能：一些X射线测厚仪具有自动化功能，可以实现自动校准、数据处理、报告生成等功能，提高测量效率和准确性。

5. 界面友好：X射线测厚仪通常配备有直观、易操作的用户界面，操作简单方便，可以快速上手使用。

X荧光光谱膜厚测试仪是一种用于测量薄膜或涂层厚度的仪器。它通过分析材料上的荧光光谱来确定薄膜或涂层的厚度，从而提供了非破坏性且的厚度测量方法。

这种测试仪通常使用X射线或其他类型的辐射来激发样品表面的荧光。通过测量不同波长下的荧光强度，可以确定薄膜或涂层的厚度。这种技术适用于各种材料，包括金属、聚合物、涂料等。

X荧光光谱膜厚测试仪具有快速、、非接触性和高灵敏度的特点，广泛应用于制造业、材料研究、化工等领域。它可以帮助用户监测产品质量、优化生产工艺，并提高生产效率。