X荧光光谱仪 厚度测试仪 膜厚检测仪 XAU-4CS多功能XRF

XAU-4CS多功能XRF

性能优势：1.微小样品检测：小测量面积0.03mm²（加长测量时间可小至0.01mm²）2.变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm3.的EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂镀层，多层多元 素，甚至有同种元素在不同层也可测量。   4.的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限。   5.探测器：S

• 测量面积：小0.03mm²

• 镀层分析：23层镀层24种元素

• 仪器特点：RoHS卤素有害元素检测

• 仪器优势：同元素不同层分析

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  XAU-4CS是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。

  应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。
  

  被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

  
  

  
  

  1. 成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）

  2. 成分低检出限：1ppm

  3. 涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）

  4. 涂镀层低检出限：0.005μm

  5. 小测量直径□0.1*0.3mm（小测量面积0.03mm²）

      标配：小测量直径0.3mm（小测量面积0.07mm²）

  6. 对焦距离：0-30mm

  7. 样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

  8. 仪器尺寸：550mm*480mm*470mm

  9. 仪器重量：45KG

  10. XY轴工作台移动范围：50mm*50mm

  11. XY轴工作台大承重：5KG

  
  

  
  

  
  

  
  

  
  

  广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、五金建材、航空航天、环保行业、汽车行业、贵金属检测、精密电子、电镀行业等多种领域。

• 微小样品检测：小测量面积0.03mm²（加长测量时间可小至0.01mm²）

• 变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm

• 自主研发的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也测量

• 的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限

• 探测器：SDD硅漂移窗口面积25/50mm²探测器

• 光路系统：微焦加强型射线管搭配聚焦、光路交换装置

• 多准直器自动切换