南京二手元件测试仪批发价格,德律TR-518FV

TR-518FR 在线测试仪规格参数 测试点数 标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点 测试步骤 步骤: 12288步骤,可依需求扩充 测试时间 开路/短路测试:每1000点约1.5Sec(Typical DUT) 元件测试:每一元件约0.8mSec至30mSec(Typical DUT) 测试范围 电阻:0.1Ω至40MΩ电晶体: ±5V 电容:1.0PF至40mF Zener二极体: 标准配备,0.1V至48V 电感:1.0UH至60H 二极体:0.1V至9.99V 隔离点电路 隔离点自动选择,每测试步骤5点 测试值上下限设定范围

检查制成板上在线元器件的电气性能和电路网络的连接情况。能够定量地对电阻、电容、电感、晶振等器件进行测量，对二极管、三极管、光耦、变压器、继电器、运算放大器、电源模块等进行功能测试，对中小规模的集成电路进行功能测试，如所有74系列、Memory 类、常用驱动类、交换类等IC。

1.2 IC的测试
对数字IC，采用Vector（向量）测试。向量测试类似于真值表测量，激励输入向量，测量输出向量，通过实际逻辑功能测试判断器件的好坏。
如:与非门的测试
对模拟IC的测试，可根据IC实际功能激励电压、电流，测量对应输出，当作功能块测试。

保持管脚A的电压，在管脚B加一较高负电压，电流Ib流过管脚B之正向偏压二极管。由于从管脚A和管脚B至接地之共同基片电阻内的电流分享，电流Ia会减少。

GenRad类式的测试称Junction Xpress。其同样利用IC内的二极管特性，只是测试是通过测量二极管的频谱特性（二次谐波）来实现的。
DeltaScan技术不需附加夹具硬件，成为首推技术。

ICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点。但随着器件集成度增高，功能越来越强，封装越来越小，SMT元件的增多，多层板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一个节点放一根探针变得很困难，为增加测试点，使制造费用增高；同时为开发一个功能强大器件的测试库变得困难，开发周期延长。为此，联合测试组织（JTAG）颁布了IEEE1149.1测试标准。