江苏天瑞仪器X荧光光谱电镀测试仪

型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

X射线测厚仪是一种用于测量材料厚度的仪器，主要功能包括以下几点：

1. 非破坏性测试：X射线测厚仪可以通过X射线的方式快速、准确地测量材料的厚度，而不需要对材料进行破坏性测试。

2. 测量：X射线测厚仪可以实现的测量，可以检测到微小的厚度变化，精度通常可以达到几微米。

3. 大范围测量：X射线测厚仪可以应用于各种材料的厚度测量，包括金属、塑料、涂层等材料，可以实现在不同厚度范围内的准确测量。

4. 自动化功能：一些X射线测厚仪具有自动化功能，可以实现自动校准、数据处理、报告生成等功能，提高测量效率和准确性。

5. 界面友好：X射线测厚仪通常配备有直观、易操作的用户界面，操作简单方便，可以快速上手使用。

X荧光镀层测厚仪是一种利用X射线荧光原理测量材料表面镀层厚度的仪器。其原理如下：

1. X射线照射：仪器通过产生X射线，将其照射到待测镀层表面。

2. 荧光发射：X射线照射到镀层表面后，会激发镀层中原子的电子跃迁，使其发生荧光发射。不同原子的荧光发射能谱是不同的，可以通过检测荧光发射的能谱来确定镀层中不同元素的含量。

3. 测量：根据镀层中不同元素的荧光发射能谱及其强度，可以计算出镀层的厚度。

通过这种原理，X荧光镀层测厚仪可以快速、准确地测量各种类型的镀层厚度，是一种常用的表面分析仪器。