钼锰层化学镀镍膜厚测厚仪

单样品腔。
正比计数盒探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
外观尺寸： 430×380×355mm
样品腔尺寸：306×260×78mm
重量：30kg

应用领域

黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

不同类型的测厚仪具有不同的工作原理。以超声波测厚仪为例，其工作原理简单。当超声波阵列发射器产生超声波脉冲后，超声波会在介质内传播，遇到不同介质的界面时，会部分反射回来。测厚仪通过接收返回的反射波，结合声速计算出材料的厚度。

基本组成
荧光测厚仪通常由以下几个部分组成：
- 光源：产生激发光，一般为X射线或特定波长的激光。
- 光谱分析仪：用于分离和检测荧光信号。
- 处理单元：对信号进行处理，计算厚度。
测量过程
测量过程通常包括以下步骤：
1. 样品准备：确保待测表面清洁，无污垢或覆盖物。
2. 激发测量：将荧光测厚仪的探头与样品表面接触，激活光源。
3. 数据采集：光谱分析仪捕获荧光信号，并传输至处理单元。
4. 厚度计算：处理单元根据荧光强度和预设参数计算出样品的厚度。