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高低温循环测试的温度范围是多少
高低温循环测试的温度范围取决于产品的规格和要求，通常可以设定为40℃到+85℃之间。

高低温循环测试是否会影响产品的寿命
高低温循环测试会模拟产品在极端温度环境下的使用情况，对产品的寿命会产生一定影响。但通过这项测试可以发现潜在问题，并采取相应的改进措施，提高产品的质量和可靠性。

通过以上的规范流程要求，我们可以对高低温循环测试的方法有一个全面的了解，并能够根据实际需要进行相应的测试和评估。希望本文提供的相关知识、细节和指导能对您的工作有所帮助。

B/T 2423.2-2008高温试验则关注产品在高温环境下的适应性。这种试验特别适用于那些在热带天气或炼钢厂等高温环境下工作的仪器和设备。试验设备与低温试验相似，但温度条件则截然不同，需要模拟高温环境并持续一定的时间。

在样品断电的状态下，先将温度下降到-50℃，保持4个小时；请勿在样品通电的状态下进行低温测试，非常重要，因为通电状态下，芯片本身就会产生+20℃以上温度，所以在通电状态下，通常比较容易通过低温测试，先将其“冻透”，再次通电进行测试。 2、开机，对样品进行性能测试，对比性能与常温相比是否正常。 3、进行老化测试，观察是否有数据对比错误。 4、升温到+90℃，保持4个小时，与低温测试相反，升温过程不断电，保持芯片内部的温度一直处于高温状态，4个小时后执行2、3、4测试步骤。

老化测试的作用

01对于工艺制造过程中可能存在的一系列缺陷，如表面沾污、引线焊接不良、沟道漏电、硅片裂纹、氧化层缺陷和局部发热点等都有较好的筛选效果

02对于无缺陷的元器件，老化也可促使其电参数稳定

紫外灯产生的是400nm以下的光，能较好地加速模拟自然光中紫外线对材料的破坏作用，加速因子比氙灯要高，光源稳定性也比氙灯要好，但容易产生非自然光产出的破坏（尤其是UVB灯）