全新设计的XTEST分析软件 软件内核包括基本参数法（FP），经验系数法（EC）,可轻松分析各类样品。 光谱处理参数包括用于定义背景连续性，堆积峰和峰总和，平滑度以及测量到的峰背景光谱的数量 对吸收以及厚膜和薄膜二次荧光的完全校正，即所有基质效应，增强和吸收。
谱显示：峰定性，KLM标记，谱重叠比较，可同时显示多个光谱图 可以通过积分峰的净面积或使用测得的参考光峰响应，将光峰强度建模为高斯函数。 可以使用纯基本参数方法，具有分散比的基本参数（对于包含大量低Z材料的样品）或通过简单的小二乘拟合进行定量分析。 基本参数分析可以基于单个多元素标准，多个标准或没有标准的样品。
铁精粉光谱仪通常采用光学原理，包括可见光、红外光和紫外光等波长范围。它通过将样品暴露在特定波长的光下，测量样品对光的吸收、散射或发射等特性，然后根据这些特性获得样品的光谱信息。利用铁精粉光谱仪，可以对铁精粉样品的化学成分、晶体结构、杂质含量和物理性。
铁矿石光谱仪是一种用于分析铁矿石样品中的化学成分和矿物组成的仪器。它通过测量铁矿石样品在不同波长的电磁辐射下的吸收或发射光谱，来确定样品中的元素和矿物组成。