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高低温循环测试的持续时间如何确定
高低温循环测试的持续时间应根据产品的使用情况和使用率来确定,通常可以设定为几个小时到几个天。

在样品断电的状态下,先将温度下降到-50℃,保持4个小时;请勿在样品通电的状态下进行低温测试,非常重要,因为通电状态下,芯片本身就会产生+20℃以上温度,所以在通电状态下,通常比较容易通过低温测试,先将其“冻透”,再次通电进行测试。 2、开机,对样品进行性能测试,对比性能与常温相比是否正常。 3、进行老化测试,观察是否有数据对比错误。 4、升温到+90℃,保持4个小时,与低温测试相反,升温过程不断电,保持芯片内部的温度一直处于高温状态,4个小时后执行2、3、4测试步骤。

紫外灯产生的是400nm以下的光,能较好地加速模拟自然光中紫外线对材料的破坏作用,加速因子比氙灯要高,光源稳定性也比氙灯要好,但容易产生非自然光产出的破坏(尤其是UVB灯)

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