光谱XRF无损测厚仪

开启仪器电源开关时，动作要慢、不可用力过猛、以免损坏按键。
向样品腔放置样品时，要注意样品的洁净，不可使尘粒掉入其中，否则会污染X光管和探测器窗口，造成测量失准和探头损坏；同时，还要注意轻拿轻放（使用镊子等器具取放样品），以免测量窗口的薄膜被破坏。
样品盖需要经常用酒精棉球清洁。
每次开机后，仪器都先预热30分钟，然后进行初始化，方可进行正常的检测工作。
测量不同类型的样品时，需从程序栏中选择其对应的选项，才能的测量效果。
为使仪器能长期保持工作正常，需定期对仪器的各项参数进行测试，并进行调整。

测厚仪在日常使用中需要定期维护和保养，以确保其测量精度和使用寿命。以下是一些建议：
1. 定期校准：定期对测厚仪进行校准，确保其测量结果的准确性。一般建议每隔一段时间就进行一次校准，特别是在使用频繁的情况下。
2. 保持清洁：在使用后，及时清理测厚仪的传感器和测量部位，避免污垢和灰尘影响测量精度。
3. 妥善存放：测厚仪应存放在干燥、避免阳光直射的地方，防止设备受潮或高**响。
4. 阅读使用手册：每款测厚仪都有其专属的操作手册，用户在使用时应仔细阅读，以确保正确使用和保养设备。

基本组成
荧光测厚仪通常由以下几个部分组成：
- 光源：产生激发光，一般为X射线或特定波长的激光。
- 光谱分析仪：用于分离和检测荧光信号。
- 处理单元：对信号进行处理，计算厚度。
测量过程
测量过程通常包括以下步骤：
1. 样品准备：确保待测表面清洁，无污垢或覆盖物。
2. 激发测量：将荧光测厚仪的探头与样品表面接触，激活光源。
3. 数据采集：光谱分析仪捕获荧光信号，并传输至处理单元。
4. 厚度计算：处理单元根据荧光强度和预设参数计算出样品的厚度。