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苏州中启检测有限公司,作为国内的第三方实验室检测机构,我们将为您提供、严谨的服务。本次我们向您介绍的是苏州电磁辐射现场测试,包括电子产品辐射发射和辐射抗扰度测试。

一、电子产品辐射发射测试:

电子产品在正常使用过程中,会产生电磁辐射。为了保护人体健康和无线通信设备的正常运行,我公司提供电子产品辐射发射测试服务。

根据国家和行业相关标准,我们对电子产品辐射发射进行全面测试,包括频率范围、辐射功率、谐波和非谐波等参数的测量。

测试数据准确、可靠,能够客观评估电子产品对周围环境和人体的电磁辐射情况,帮助您了解产品在信号发射时的辐射强度。

二、电子产品辐射抗扰度测试:

电子产品在使用过程中需具备一定的辐射抗扰度能力,以在外部辐射环境下正常运行。

依据相关标准,我们对电子产品进行辐射抗扰度测试,包括对射频辐射、静电放电、快速瞬态脉冲干扰等的检测。

通过测试,我们能够评估产品在复杂的电磁环境下的实际工作能力,为您提供对产品性能表现的全面了解。

IT类电子产品的脉冲群抗扰度测试通常遵循以下标准和要求:



1. GB/T 17626.4-2018《电磁兼容性试验和测量技术 第4部分:脉冲群抗扰度试验》:该标准规定了脉冲群抗扰度测试的方法和要求。



2. IEC 61000-4-4:2012《电磁兼容性(EMC) 第4-4部分:脉冲群试验》:这是国际上广泛使用的标准,规定了脉冲群抗扰度测试的方法和要求。



脉冲群抗扰度测试的主要要求包括以下几点:



1. 脉冲参数:根据产品的应用环境和需求,确定所需的脉冲参数,如脉冲幅值、上升时间、宽度等。



2. 测试装置:根据标准要求,提供适当的测试装置,包括脉冲发生器、耦合装置、接地装置等,以确保测试条件的准确性和稳定性。



3. 测试方法:按照标准的要求,对电子产品进行脉冲群抗扰度测试。测试方法通常包括直接注入、耦合注入和串扰注入等。



4. 测试级别:根据产品的应用要求,确定合适的脉冲群抗扰度测试级别,通常包括不同级别的脉冲幅值和次数。

环境可靠性测试中的温度冲击试验是一种常用的试验方法,用于评估产品在温度快速变化条件下的性能和可靠性。以下是温度冲击试验的一般测试流程和注意事项:



测试流程:

1. 准备:确定测试温度范围和温度变化率,并根据产品的规格和要求制定测试计划。准备好测试设备和试样。



2. 预热:将试样置于高温环境中进行预热,使其达到稳定的高温状态。



3. 冷冻:迅速将试样转移到低温环境中,使其暴露在低温环境下。



4. 冷冻保持:在低温环境下保持一定的时间,通常以分钟为单位。



5. 热冲击:迅速将试样转移到高温环境中,使其暴露在高温环境下。



6. 热冲击保持:在高温环境下保持一定的时间,通常以分钟为单位。



7. 循环重复:根据测试计划和要求,重复进行冷冻和热冲击的循环,直至达到所需的测试次数或时间。



8. 结果记录:记录测试过程中的温度变化、试样状态和性能数据,以便后续分析和评估。

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