HAST高压加速老化试验箱广泛应用于半导体、显示面板、PCB、电子元器件等多个领域的环境可靠性测试。EHS系列提供了高可用性和多种性，以满足 IEC60068-2-66 标准和其他国际标准，具有方便的功能和可用于偏压测试的安全特性。适合大型试样或大量小型试样的试验的大容量产品。
具备利用常规测试数据的控制功能,M/MD型有「干湿球温度控制」、「不饱和控制」、「湿润饱和控制」等三种模式。标准型具备有「不饱和控制」、「湿润饱和控制」等两种模式。
高压加速老化试验箱EHS系列采用自开发的干湿球温度控制功能,满足IEC60068-2-66规定的试验装置条件，可以进行规定的试验。此外,EHS系列还满足以下标准：
●IEC 60749-4（高加速应力试验）
●ED-4701/100A(不饱和蒸汽加压试验)
●JESD22-A118（无偏压高加速应力试验）
●JESD22-A110E（高加速应力试验）
●JESD22-A102E（无偏压高压蒸煮试验）
●AEC-Q100 -版本H（偏压高加速应力试验 /无偏压高加速应力试验）
●JPCA-ET08（不饱和加压蒸汽试验）
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