绍兴检测中心三坐标检测-优尔鸿信-CNAS认可

纳米级扫描电子显微镜（SEM）探索微观世界：扫描电子显微镜利用聚焦电子束在样品表面扫描，激发二次电子等信号来成像，其分辨率可达到纳米级，甚至亚纳米级。在材料科学、生物医学、半导体技术等领域，SEM成为研究微观结构、表面形貌和化学成分的重要工具，为精密量测和科学研究开辟了全新的视角。

自动化精密检测线的智能化升级：随着智能制造的兴起，自动化精密检测线成为提升生产效率和质量稳定性的关键。这些检测线集成了机器视觉、人工智能、大数据分析等技术，能够实现对产品尺寸的实时、测量，并对测量数据进行快速分析和处理，及时发现并纠正生产过程中的偏差，实现生产过程的智能化、化控制。

形位公差是指加工成的零件的实际表面形状和相互位置，对理想形状与理想位置的允许变化范围。它涵盖了形状公差和位置公差两大类。
分类：
形状公差：指单一实际要素的形状所允许的变动全量，如直线度、平面度、圆度、圆柱度等。
位置公差：指关联实际要素的位置对基准所允许的变动全量，包括定向公差（如平行度、垂直度、倾斜度）和定位公差（如同轴度、对称度、位置度等）。