保温柜FYL-YS-50LK

保温柜FYL-YS-50LK介绍：北京福意电器有限公司拥有一批经验丰富的经营人员，力量雄厚，产量稳定、品种，产品优良各大中院校、化工、、科研等，深受及实验分析人员的。面对当今竞争日益激烈的市场，福意联人将以更优良的产品、更优惠的价格、更完善的，争取更大的市场。

保温柜FYL-YS-50LK参数：


保温柜FYL-YS-50LK扩展知识分享：半导体流程由晶圆，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。

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