钼锰合金层膜厚测厚仪

设计亮点
全新的下照式设计，一键式的按钮，让您的鼠标键盘不再成为，大减少您摆放样品的时间。
全新的光路系统，大大减少了光斑的扩散，实现了对较小产品的测试。
搭配高分辨率可变焦摄像头，配合距离补正算法，实现了对不规则样品（如凹凸面，拱形，螺纹，曲面等）的异型测试面的测试。

不同类型的测厚仪具有不同的工作原理。以超声波测厚仪为例，其工作原理简单。当超声波阵列发射器产生超声波脉冲后，超声波会在介质内传播，遇到不同介质的界面时，会部分反射回来。测厚仪通过接收返回的反射波，结合声速计算出材料的厚度。

荧光测厚仪的工作原理基于荧光现象。当探测器照射到被测材料表面时，材料中的原子吸收能量并发出特定波长的荧光。荧光的强度与材料的厚度有直接关系。通过分析荧光信号强度，仪器可以计算出材料的厚度。