天瑞仪器x射线镀层测厚仪金属镀层膜厚仪

天瑞镀层测厚仪是一款自动化程度很高的快捷膜厚测试设备，它可以用鼠标来控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点，高分辨率探头使分析结果更加，良好的射线屏蔽作用，测试口高度敏感性传感器保护。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。

x荧光镀层测试仪
产品配置：开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保护传感器，计算机及喷墨打印机。

天瑞x射线荧光镀层测厚仪已经在下面的领域中得到大规模使用，黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测。金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。通信5G，电子连接件，器材部件等等产品。

无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
直观：实时谱图，可直观显示元素含量。
测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。

采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动退出自检、复位
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样精密的三维移动平台
的样品观测系统
的图像识别
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器，自动切换

thick600镀层测厚仪使用而实用的正比计数盒和电制冷探测器，以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求，且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作更人性化、更方便。集天瑞仪器多年镀层测厚检测技术和经验，以特的产品配置、功能的测试软件、友好的操作界面来满足金属镀层及含量测定的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。