天瑞仪器手持式合金分析仪XRF分析仪,手持式光谱仪

X光管和大面积硅漂移探测器（SDD）地耦合在一起，能够满足客户严苛的材质管控需求。

出众的轻元素（镁铝硅磷硫）分析可对组件及系统进行严格控制

检测限制低，可准确分析微量元素/残存元素

快速准确的元素分析和牌号鉴定（自带牌号库）

效率佳：重量轻（1.5千克），体积小，人体工程学设计，电池具有10-12小时的续航能力

数秒内完成开机并进行检测

仪器头部小：可轻松检测弯曲或拐角部位（如焊缝）

强大的数据管理功能：

可存储多达十万个检测结果，包括光谱谱图和样品图像（配备相机）

结果和报告可直接下载到U盘，或通过USB数据线传到电脑上，也可利用WiFi或蓝牙实现共享；可保存成CSV格式或PDF格式使数据具有完整性。

使用X-MET报告生成器（无需安装软件）创建客户自定义格式的报告：包括公司LOGO、样品图像、检测结果、光谱谱图及其他样品信息（如产品描述、产地、批号等）

在XRF分析法中，从X光发射管里放射出来的高能初级射线光子会撞击样本元素。这些初级光子含有足够的能量可以将里层即K层或L层的电子撞击脱轨。这时，原子变成了不稳定的离子。由于电子本能会寻求稳定，外层L层或M层的电子会进入弥补内层的空间。在这些电子从外层进入内层的过程中，它们会释放出能量，我们称之为二次X射线光子。而整个过程则称为萤光辐射。每种元素的二次射线都各有特征。而X射线光子萤光辐射产生的能量是由电子转换过程中内层和外层之间的能量差决定的。例如，铁原子Fe的Kα能量大约是6.4千电子伏。特定元素在一定时间内所放射出来的X射线的数量或者密度，能够用来衡量这种元素的数量。典型的XRF能量分布光谱显示了不同能量时光子密度的分布情况。