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天瑞仪器镀层膜厚分析仪X荧光光谱仪

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随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、、实用化的方向进了一步。它适用范围广,量程宽、操作简便且,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。

设计亮点
全新的下照式设计,一键式的按钮,减少摆放样品时间。全新的光路系统,大大减少了光斑的扩散,实现了对更小产品的测试。
搭配高分辨率可变焦摄像头,配合距离补正算法,实现了对不规则样品(如凹凸面,拱形,螺纹,曲面等)的异型测试面的测试。
人性化的软件界面,让操作变得更加便捷。
曲线的中文备注,让您的操作更易上手。
仪器硬件功能的实时监控,让您的使用更加放心。

多功能自动微区X荧光膜厚测试仪,既满足原有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能,又可满足有害元素检测及轻元素成分分析;搭载自动化的X/Y/Z轴的三维系统、双激光定位和保护系统,可多点位编程测试,被广泛应用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量。

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江苏天瑞仪器股份有限公司为你提供的“天瑞仪器镀层膜厚分析仪X荧光光谱仪”详细介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司
主营:镀层测厚仪,rohs检测仪器,手持式光谱仪,土壤重金属检测仪
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