台式镀层测厚仪手持式x射线测厚仪

x荧光镀层测试仪
产品配置：开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保护传感器，计算机及喷墨打印机。

无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
直观：实时谱图，可直观显示元素含量。
测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。

可靠性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。
满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。

探测器和记数盒的配置有什么区别导致价格差异这么大？
答： 分辨率不同，记数盒对多镀层能量相近元素无法分辩，计算厚度误差大，甚至不能测试，无法满足客户需要。
你们仪器的测厚范围？
答： 各种材料范围不同，金属一般在30微米左右，其中金8微米左右，铝100微米左右。