周期1~3个工作日项目三坐标检测
校验测头:将测头的直径误差控制在-3个微米以内,形状误差控制在正负3个微米以内。
设立基准:先测工件的一个平面设为基准平面A,再测一条线设为基准B,再测一个点作为基准C
纳米级扫描电子显微镜(SEM)探索微观世界:扫描电子显微镜利用聚焦电子束在样品表面扫描,激发二次电子等信号来成像,其分辨率可达到纳米级,甚至亚纳米级。在材料科学、生物医学、半导体技术等领域,SEM成为研究微观结构、表面形貌和化学成分的重要工具,为精密量测和科学研究开辟了全新的视角。
三坐标检测是利用精密桥式三坐标并配合其他关联检测仪器对产品进行全尺寸检测的方法。
三坐标检测能够判断产品的尺寸误差是否在公差范围之内,确保产品质量。
三坐标检测能够测量工件的尺寸、形状和形位公差。
三坐标检测是完成零件检测、外形测量、过程控制等任务的重要工具。
三坐标检测在电子、五金、塑胶等行业中发挥着重要作用。
三坐标检测能够提升产品质量和生产效率,降低不良品率。
坐标检测是现代工业检测和质量控制不可缺少的测量设备。
三坐标检测能够覆盖机械零件及电子元器件的各种形状公差和位置公差。