天津供应高压加速老化试验箱供应商

PCT老化箱采用新优化设计,美观大方，做工精细。
采用大容量水箱,试验时间长,不中断。
采用日本“SHIMAX”智能温控器，具有精度高，控制稳定特点（依客户需要也可选择采用触摸屏为4.3寸真彩屏，USB曲线数据下载功能，和通讯功能）。

PCT试验箱对半导体的PCT测试：PCT主要是测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，常见的故装原因：爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。
产品特点
1. 采用进口微电脑控制饱和蒸气温度、微电脑 P.I.D 自动演算控制饱和蒸气温度。
2. 采用指针显示正负压表；时间控制器采 LED 显示器；自动水位控制器,水位不足时提供警示。
3. 圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准, 可防止试验中结露滴水设计.。
4. 圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计,可避免蒸气潜热直接冲击试品.。
5. 精密设计,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续 200h。
6. 自动门禁,圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制,专利安全门把设计,箱内有大于常压时测试门会被反压保护。
7. 内压力愈大时,专利packing,箱门会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing寿命。
8. 临界点 LIMIT 方式自动安全保护,异常原因与故障指示灯显示。
9. 安全阀，当锅内压力超过大工作值自动排气泄压。
10. 一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。

采用能模拟全阳光光谱的氙弧灯来再现不同环境下存在的破坏性光波，可以为科研、产品开发和质量控制提供相应的环境模拟和加速试验。

老化试验箱有大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且利用钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。
箱体保温采用超细玻璃纤维保温棉，可避免不必要的能量损失。箱体左侧配一直50mm的测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用。换气的时间和次数可任意设置。
试验架二层，可以自由调节高度

循环腐蚀试验以一种重复的循环周期将样板暴露在一系列不同的环境条件之中，Q-FOG腐蚀试验箱循环式腐蚀试验比传统的盐雾试验对材料的侵蚀作用更为接近自然

自我诊断功能，便于维护
内置自诊断装置可提示操作人员何时应进行例行维护，或对故障进行检查。带有一个个性化的面板控制器，它可使操作人员简单地对复杂的测试程序进行编程。
易于编制循环程序或直接运行Q-FOG自带的测试程序。可以完成许多循环腐蚀试验，如Prohesion试验、ASTM B117、ASTM G85、BS3900 F4和F9、DIN50.907和ISO9227等试验。内置以下全部或部分循环程序：
1、 循环A， ASTM B117（NSS）
2、 循环B， Prohesion
3、 循环C，CCT-1
4、 循环D，CCT-IV
5、 循环E，GM9540P/B
6、 循环F，ASTM B368（CASS）